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in diesem kostenlosen Seminar erfahren Sie, wie Sie mit neuen Technologien und neuen Produkten Messdaten einfach erfassen, auswerten und darstellen können. Aufgrund der stetig wachsenden Anforderungen an Mess- und Prüfsysteme sehen sich Entwickler immer wieder mit der Aufgabe konfrontiert, neue Systeme für die Erfassung, Analyse und Darstellung der Messdaten zu entwerfen. Im Testbereich steigt die Anzahl der zu testenden Parameter kontinuierlich, so dass automatisierte Systeme aus entwicklungsbegleitenden Tests oder Validierungstests nicht mehr wegzudenken sind.

Im Seminar »Vom Sensor zum Prüfbericht« erfahren Sie, wie Sie mithilfe von Hard- und Softwareprodukten von National Instruments Mess- und Prüfsysteme erstellen können, die sich durch eine hohe Flexibilität und Anpassbarkeit auszeichnen.

Angefangen bei Messgerätesteuerung und Datenerfassung über Bussysteme wie USB, GPIB oder Ethernet bis hin zu Real-Time- und FPGA-Anwendungen auf PCI- und PXI-Formfaktor werden wir Ihnen demonstrieren, welche verschiedenen Bussysteme und Plattformen für Ihre Anwendungen zur Verfügung stehen. Zum Schluss begeben wir uns in den Bereich der Automatisierung und zeigen, wie automatisierte Testsysteme auf Basis der modularen PXI-Plattform mit dem Ziel erstellt werden können, einen höheren Durchsatz, verbesserte Flexibilität sowie geringere Gesamtkosten zu erreichen.

Reservieren Sie gleich Ihren Platz und melden Sie sich an: online unter austria.ni.com/seminare, per E-Mail an [email protected] oder per Telefon unter +43 662 4579900.